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              重点设备介绍 网站首页>重点设备介绍

              聚焦离子束(FIB)


              型号及主要参数:

              厂家:FEI(美国)

              型号:FEI-Scios 2 Hivac

              主要参数:

              离子束分辨小于3nm@30KV

              电子束分辨率:workspace<1nm@15KV,workspace<1.6nm@15KV

              样品XY方向移动范围不低于110nm,Z方向不低于60 nm,可绕Z轴旋转任(360°

              意角度倾斜角度T范围不小于-1590°


              用途及功能:

              扫描电镜主要用于观察、分析、记录样品的微观形貌,

              聚焦离子束用于样品微纳米尺度下的切割、表面修饰、TEM制样

              刻蚀能谱仪主要用于样品元素分析


              特点:

              离子束与电子束双束,实现聚焦离子束FIB切割与SEM形貌同步观察


              扫描电子显微镜(SEM)


              型号及主要参数

              厂家:ZEISS(德国)

              型号:GEMINI 300

              主要参数:

              分辨率:0.7 nm@15 KV,1.2nm @15 KV

              放大倍率:12x-2000000x

              加速电压:0.2-30kV

              五轴样品台:130 mm (X方向), 130 mm (Y方向), 50 mm (Z方向),-4°-70° (倾斜),360° (旋转)


              用途及功能:

              扫描电镜主要用于观察、分析、记录样品的微观形貌,

              能谱仪主要用于样品元素分析


              特点:

              高分辨表面形貌成像


              X射线光电子能谱仪(XPS)
              紫外光电子能谱仪(UPS)



              型号及主要参数

              厂家:thermofisher(美国)

              型号:ESCALAB Xi+

              主要参数:

              XPS能量分辨率≤0.43 eV

              灵敏度: 大面积XPS,  Ag3d5/2(FWHM≤1.0 eV)强度大于106CPS

              角分辨ARXPS分析

              紫外光电子能谱(UPS)


              用途及功能:

              用于粉末、薄膜、块状等各种有机无机材料的表面几个原子层(1-10 nm)的化学组成、价态的深度剖析、成像分析及功函数分析与表征。


              特点:

              高分辨XPS,UPS


              X射线衍射仪(XRD)




              型号及主要参数

              厂家:Bruker(德国)

              型号:D8 ADVANCE

              主要参数:

              X射线光管:Cu靶陶瓷X光管,功率2.2 KW

              扫描方式:立式θ/θ测角仪

              转动范围:-10°-168°,最小步长:0.0001°

              能量色散阵列探测器


              用途及功能:

              物相定性定量分析

              微光结构分析(微晶尺寸、微观应力)

              粉末数据结构与结构精修

              小角度X射线散射


              特点:

              整列探测器,可测试小角度XRD


              原子力显微镜(AFM)




              型号及主要参数

              厂家:Bruker(德国)

              型号:Dimension ICON

              主要参数:

              XY方向扫描范围90μm x 90μm,

              垂直方向扫描范围10μm,

              样品尺寸可达直径210mm,厚度15mm


              用途及功能:

              表面形貌、粗糙度、相图测试

              力曲线等力学性质测试

              电学性质如静电力显微镜(EFM)、开尔文探针力显微镜(KPFM)、压电力显微镜(PFM)、导电原子力显微镜测试(C-AFM)


              特点:

              高分辨形貌成像、电学性能测试??槿鏓FM、PFM、KPFM、C-AFM


               核磁共振谱仪(NMR)



              型号及主要参数
              厂家:Bruker(德国)
              型号:AVANCE NEO 400MHz
              主要参数:
              射频频率范围:6-440MHz,频率分辨率≤0.005Hz
              灵敏度:1H≥500:1,13C≥220:1,15N≥25:1,31P≥150:1,19F≥500:1
              可测C13DEPT,二维谱Cosy、Noesy、HMBC、HSQC
              
              用途及功能:
              主要应用于有机化合物分析与性能研究
              
              
              特点:
              
              Bruker全新谱仪,快速出核磁结果
              
              
                                        激光共聚焦拉曼光谱仪(Raman)
                             
              
              型号及主要参数
              
              厂家:Renishaw(英国)
              型号:InVia Spectrometer
              主要参数:
              532 nm、785 nm波长激光器,激光光斑小于0.8 μm
              拉曼频移范围:532 nm包含50cm-1-9000cm-1,785nm包含50 cm-1-4000 cm-1
              灵敏度:不低于30:1,能观察到硅的三阶峰及四阶峰
              光谱重复性:优于±0.02cm-1,可实现mapping功能
              
              用途及功能:
              主要应用于各种物质的分子组成、结构及相对含量分析,实现对物质的鉴别和定性研究
              
              
              特点:
              
              532 nm,785 nm双波长激光器,拉曼Mapping成像
              
              
              联系方式:
              
              
              联系电话: 0512-62316061,18962592662(殷老师)
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